初始校验
为了保证精度，必须进行初始的校验。
对于外校天平，按键开启电源,按住打印/校准键直到屏幕显示【.CAL.】。所需的校准砝码值在显示屏上闪烁。按取消键可以显示一个替代值。把指示的砝码放在秤盘上，此时显示屏闪动【BusY】。当显示【CLEArPan】时，移走砝码。当校准完成时，【DonE】就会显示出来。CP外校天平提供了两种校准方式供选择:量程校验和线性校验。
对于自校天平，长按【打印/校准】键直至显示屏屏幕显示【CAL】，启动自校，自校过程中显示屏显示【BusY】，自校结束时显示屏显示【DonE】。
注意：请在上电60分钟获得充足的预热后，再进行校准操作。
称量操作
CP系列电子天平有称重模式、计件称量、百分比称量和下挂式称量等称量方式。默认设置是将称重模式打开，其他所有模式都被关闭。若使用其他称量模式，必须将所需使用的称量模式在菜单中打开。
为了获得准确稳定的称量结果，建议在进行称量操作前将天平预热60分钟。
称量模式
反复短按单位键直到显示称重，然后短按【置零】键进行归零。
将待称物体放到秤盘上，待稳定符号"*"出现后，从显示屏读取称量值。
计件称量
用计件称量的方式来称量具有均匀重量物体的数量。
注：使用此功能必须在菜单中将其激活，
计件称量模式的进入：反复短按【单位转换/菜单】键直到屏幕显示【Count】。
建立平均单件重量（APW）：每次要计数新的物体时，必需通过使用少量的物体来建立单件额定重量（平均单件重量）。当显示屏显示【CLrAPUU】时，按【取消】键使用以前建立的平均单件重量。按【确认】键建立一个新的平均单件重量。这时显示屏指示建立一个新的平均单件重量所需物件的数量。如果要选取一个新的取样的数量，按住【取消】键直到需要样品数量显示出来（5、10、25、50或者100）。在秤盘上放上指定数量的物体，按确认键储存新的平均单件的重量，按取消键不保存退出。然后在秤盘上放上指定数量的物体，按确认键储存新的平均单件重量，按取消键不保存退出。这个APW会储存起来，直到它被另一个APW所替代。平均单件重量优化－因为各个物体重量之间微小的变化，可以利用平均单件重量的优化来提高计数精度。当称量的数量小于初始取样的三倍时，天平会自动地重新计算平均单
件重量。每次优化后，都会显示【APUU.OPT】。
百分比称量
使用这种模式来测量一个样品重量对于一个参考重量的百分比。
注：使用此功能必须在菜单中将其激活
百分比称量模式的进入：反复短按单位键直到屏幕显示【PErCENt】。建立一个新的参考重量：当【CLr.REF】显示时，按【取消】键表示使用以前设定的参考重量。按【确认】键建立新的参考重量。把作为参考重量的样品放在秤盘上，按【确认】键储存，按【取消】键不保存退出。
